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상해 민행구 수문로 898호 서자국제센터 5호동 706실 (201199)
제품 카테고리
상해혁풍기기설비유한공사
개요
EDM665WRAS(WideRangeAerosolSystem) 와이드 입경 에어로졸 입경 스펙트럼은 광학 입경 스펙트럼(OPC)과 스캔 전이동률 입경 스펙트럼(SMPS+C)을 결합하여 입자의 입경을 분석하는 장비이다
제품 정보
GRIMM EDM665 와이드 입경 에어로졸 모니터
PM10, PM2.5, PM1.0 및 TC 동시 실시간 모니터링
EDM665 WRAS (Wide Range Aerosol System) 광입경 에어로졸 입자 스펙트럼은 광학 입자 스펙트럼 (OPC) 과 스캔 전이율 입자 스펙트럼 (SMPS +C) 을 결합하여 입자 입경을 분석하는 장비이며, 광학 입자 스펙트럼 (OPC) 은 주로 마이크로미터급 입자의 감측에 사용되며 31개 채널을 모니터링한다;스캔 전기 이동률 입자 지름 분광기 (SMPS+C) 는 나노 입자 연구에 사용되며 44 개의 채널을 모니터링합니다.
입경 모니터링 범위는 5nm에서 30μm로 총 70여개 채널로 나뉘며 시스템 소프트웨어는 입경과 농도 분포도를 자동으로 그린다.시스템은 자동 샘플링, 건조 제습 시스템을 갖추고 있어 무인 규제 조건에서 최대 1월까지 연속 모니터링할 수 있다.GPS 및 무선 전송 시스템을 설치할 수 있습니다.
제품 이점
이점
넓은 범위, 5.5nm ~ 32μm, 71개의 입경 채널
농도 범위 1 ~ 107P/cm3의
독립적인 모니터링 시스템, 전자동, 장기간 무인 모니터링 가능
48cm 계기 고정틀
SMPS，CPC，소프트웨어, 온라인 실시간 모니터링, 원격 제어,GPS，인증, 안정성 및 안정성
제품 적용
응용 프로그램
환경 모니터링
에어로졸 연구
이동 에어로졸 연구
길가 모니터링
엔진 배출 연구
건강 효과 연구
기술 매개변수
매개 변수
측정 범위
5.5nm ~ 32μm 범위의 71개 입경 채널
최소 스캔 시간: 300초
농도 범위: 1 ~ 107P/cm의3
광학 설비
입경 범위: 250nm ~ 32μm, 31개 입경 채널
입경 농도: 1 ~ 2 × 106P/cm의3
샘플링 트래픽: 1.2LPM
반복성: 최대 3%
SMPS+C 장치
입경 범위: 5.0nm ~ 350nm, 입경 채널 45개
입자 농도: 0 ~ 107P/cm의3
샘플링 트래픽: 0.3LPM
자동 주입: 내부 용기와 병이 연결되어 있으며, 부탄올은 자동으로 용기에 주입할 수 있다
응축수 제거: 마이크로펌프를 이용하여 원병으로 연속 추출
작업 인터페이스
소형 컴퓨터 데이터 가져오기
1142.M5 데이터 로거 연결
2xRS-232 포트(9핀 D 커넥터 포함)
2xPCMCIA 메모리 카드 슬롯
기상 및 가스 센서 입력 포트
작업 조건
주변 온도: -20 ℃ ~ +55 ℃
전원 공급 장치: 110/220VAC, 50/60Hz, 750W
크기 및 무게: 크기 60 × 60 × 160cm, 무게 250kg(전원 포함)
샘플링관: 1미터, 등온 제습 시스템 포함
옥외 보호장: 에어컨 시스템 포함
데이터 획득 및 분석
PC 또는 1142.M5 데이터 로거가 데이터를 가져와 그래프로 데이터를 분석하고 해석합니다.
데이터 로깅 시스템
1142.M5 데이터 로깅 시스템은 데이터 로깅 시스템과 리모컨 시스템을 통합하여 GRIMM 모니터를 다른 센서와 연결합니다.통합 인터페이스는 웹 페이지에 연결되어 있으며 TCP/IP 프로토콜 작업을 사용할 수 있습니다.원격 제어를 위해 메모리를 4GB로 늘립니다.
운영 소프트웨어
소프트웨어
EDM 시리즈 모니터링 시스템은 GRIIM에서 개발한 Labview 소프트웨어를 사용하여 실행되며 실시간으로 데이터를 표시하고 계산할 수 있습니다.모든 데이터는 메모리 카드 또는 data logger에 저장되며 데이터 손실이 발생하지 않습니다.독일에서 시스템이 생산되기 때문에 모든 시스템은 표준화된 GESYTEC 네트워크 프로토콜을 사용합니다.그러나 GRIIM 패키지를 통해 다른 여러 실행 모드를 사용할 수 있습니다.각 장치는 RS232를 통해 컴퓨터에 연결할 수 있으며, data logger를 사용하면 1분 이상의 시간 간격으로 데이터를 수집할 수 있다.완전 자동 테스트, 시스템 모니터링 장비 성능 제어 및 가능한 오류 보고.
