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심천시 남산구 고신중사도 31호 연상과학기술빌딩
| 컨텐트 확인 | 점 결함 | 하이라이트, 어두운 점, 편광편 불순물, 누광점, 점상 이물질 등 |
| 선 결함 | 밝은 선, 어두운 선, 얕은 선, 편광편 선형 불량, 선형 이물질 등 | |
| 면 결함 | 얼룩, 회색계단, 교란, 백라이트 균일성, 오목한 자국, 기포 등 | |
| 검사 정확도 | ≥98% | |
| 테스트 속도 (시간) | 2.7초 / 화폭 | |
| 검사 정밀도 | RGB 하위 픽셀 | |
| 화면 사양 | 32’~48’,49’~55’,55~65’,65’~75” | |
| 사용자 정의 가능 | 고객의 요구에 따라 유연하게 패브릭 및 테스트 유형 정의 | |
| 정보화 지원 | 클라우드 데이터 분석, 업로드 MES 시스템 및 품질 평가 시스템 | |